Мероприятие находится в архиве, регистрация закрыта
воспользуйтесь ссылкой на актуальные программыКурс повышения квалификации Патентный поиск
-
Как провести патентный поиск своими силами? Ответы и рекомендации вы получите, посетив практический курс по проведению патентного поиска и оформлению отчета. Полученная информация поможет выполнить эту работу с максимальной результативностью
Для кого
для специалистов, занимающихся патентной, исследовательской, изобретательской работой, НИОКР, разработкой программного обеспечения, всеми видами интеллектуальной деятельности
Программа
Обучение проводится в активной форме в компьютерном классе.
По всем темам будут рассмотрены конкретные примеры.
- Патент как источник информации.
- Особенности патентной документации. Примеры патентных описаний разных стран.
- Патентная документация в соответствии с процедурой выдачи патентов в РФ и по процедуре РСТ.
- Патентная документация в соответствии с процедурой международной регистрации товарных знаков (Мадридское соглашение и Протокол к нему).
- Стандарты ВОИС по патентной документации.
- Характеристика патентных классификаторов.
- Международная патентная классификация (МПК).
- Международный классификатор промышленных образцов (МКПО).
- Международная классификация товаров и услуг для товарных знаков (МКТУ).
- Виды патентного поиска.
- Методика проведения патентного поиска с целью проверки охраноспособности нового технического решения.
- Методика проведения патентного поиска с целью определения технического уровня.
- Методика проведения патентного поиска с целью определения патентной чистоты изделия.
- Характеристика и проведение поиска в бесплатных патентных базах данных.
- Проведение патентного поиска в базе данных РФ.
- Проведение патентного поиска в базе данных Европейского патентного ведомства.
- Обзор баз данных ВОИС, США, Японии, Китая, Кореи.
- Порядок оформления Отчета о патентных исследованиях в соответствии с ГОСТ Р 15.011-96 «Система разработки и постановки продукции на производство. Патентные исследования».
- Порядок оформления патентного формуляра.